CD74HC4514EN - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74HC4514EN
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW60537729
Категория

Логический контроллер
Упаковка

DIP-24
Описание

Latch/Decoder/Demultiplexer Single 4-to-16 24Pin PDIP Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD74HC4514EN Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74HC4514EN Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74HC4514EN
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW60537729
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	24 Pin
Корпус/Пакет	DIP-24
Напряжение Питания (DC)	2.00V (min)
Количество Выходных Интерфейсов	16 Output
Количество Стежков	24 Position
Количество Битов	4 Bit
Выходной ток (Макс)	5.2 mA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	2V ~ 6V
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	31.64 mm
Ширина	6.73 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2014/12/17

CD74HC4514EN Описание продукта

The CD74HC4514EN is a CMOS logic high-speed 4 to16 Line Decoder/Demultiplexer with input latches. The selected output is enabled by a low on the enable input (E\\). A high on E\ inhibits selection of any output. Demultiplexing is accomplished by using the E\ input as the data input and the select inputs (A0 to A3) as addresses. This E\ input also serves as a chip select when the device is cascaded. When Latch Enable (LE\\) is high the output follows changes in the inputs. When LE is low the output is isolated from changes in the input and remains at the level it had before the latches were enabled. This device, enhanced versions of the equivalent CMOS types, can drive 10 LSTTL loads.
Balanced propagation delay and transition times
Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности