CD74HC4066E - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74HC4066E
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW13945350
Категория

Чип аналогового переключателя
Упаковка

DIP-14
Описание

TEXAS INSTRUMENTS CD74HC4066E Analog Switch, Quad Channel, SPST, 4Channels, 80Ω, 2V to 10V, DIP, 14Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD74HC4066E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74HC4066E Чип аналогового переключателя характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74HC4066E
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW13945350
Категория	Чип аналогового переключателя
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	DIP-14
Напряжение Питания (DC)	2.00V ~ 6.00V
Количество Выходных Интерфейсов	4 Output
Тип Контактов	SPST
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Каналов	4 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	4 Bit
Полярность	Non-Inverting
Узлы Напряжения	6.00 V, 5.00 V, 2.00 V
Время Нарастания	400 ns
Ширина Ленты	200 MHz
Выходной ток (Макс)	25 mA
Количество входов	4 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Полоса пропускания 3 дБ	200 MHz
Напряжение питания	2V ~ 10V
Напряжение питания (Макс)	10 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	19.3 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

CD74HC4066E Описание продукта

The HC4066 and CD74HCT4066 contain four independent digitally controlled analog switches that use silicon-gate CMOS technology to achieve operating speeds similar to LSTTL with the low power consumption of standard CMOS integrated circuits.
These switches feature the characteristic linear "ON" resistance of the metal-gate CD4066B. Each switch is turned on by a high-level voltage on its control input.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности