CD74HC191E - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74HC191E
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW9905926
Категория

Логический контроллер
Упаковка

PDIP-16
Описание

TEXAS INSTRUMENTS CD74HC191E Binary Counter, HC Family, 35MHz, 2V to 6V, DIP-16
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD74HC191E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74HC191E Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74HC191E
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW9905926
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-16
Напряжение Питания (DC)	2.00V ~ 6.00V
Количество Выходных Интерфейсов	4 Output
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	16 Position
Тактовая Частота	35 MHz
Количество Битов	4 Bit
Узлы Напряжения	6.00 V, 5.00 V, 2.00 V
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	2V ~ 6V
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	19.3 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

CD74HC191E Описание продукта

description/ordering information
The CD54/74HC190 are asynchronously presettable BCD decade counters, whereas the CD54/74HC191 and CD54/74HCT191 are asynchronously presettable binary counters.
• 2-V to 6-V VCC Operation (’HC190, 191)
• 4.5-V to 5.5-V VCC Operation (’HCT191)
• Wide Operating Temperature Range of −55°C to 125°C
• Synchronous Counting and Asynchronous Loading
• Two Outputs for n-Bit Cascading
• Look-Ahead Carry for High-Speed Counting
• Balanced Propagation Delays and Transition Times
• Standard Outputs Drive Up To 15 LS-TTL Loads
• Significant Power Reduction Compared to LS-TTL Logic ICs

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности