CD74AC05M - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74AC05M
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW28748703
Категория

Логический чип
Упаковка

SOIC-14
Описание

TEXAS INSTRUMENTS CD74AC05M Inverter, 74AC05, 1Input, 24mA, 1.5V to 5.5V, SOIC-14
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD74AC05M Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74AC05M Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74AC05M
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW28748703
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Напряжение Питания (DC)	5.00 V
Количество Выходных Интерфейсов	6 Output
Выходной Ток	24 mA
Количество Цепей	6 Circuit
Количество Каналов	6 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	8 Bit
Время Задержки Распространения	5.90 ns
Количество Вентилей	6 Gate
Количество входов	6 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	1.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	1.5 V
	Развернуть все
Длина	8.65 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.58 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
Военный Класс	Yes
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

CD74AC05M Описание продукта

The CD74AC05M is a Hex Inverter with open-drain outputs contains six independent circuits. This device performs the Boolean function Y = A\\. The open-drain outputs require pull-up resistors to perform correctly and can be connected to other open-drain outputs to implement active-low wired-OR or active-high wired-AND functions.
±24mA Output drive current
30% Balanced noise immunity
Balanced propagation delays
Speed of bipolar F, AS and S with significantly reduced power consumption
Exceeds 2kV ESD protection per MIL-STD-883, method 3015
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности