CD4555BE - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD4555BE
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW10534842
Категория

Логический контроллер
Упаковка

DIP-16
Описание

TEXAS INSTRUMENTS CD4555BE Decoder / Demultiplexer, 4 Output, 6.8mA, 3V to 18V, DIP-16
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD4555BE Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD4555BE Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD4555BE
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW10534842
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	DIP-16
Напряжение Питания (DC)	3.00V (min)
Количество Выходных Интерфейсов	4 Output
Выходное Напряжение	3V ~ 18V
Выходной Ток	5 mA
Тип Контактов	DP4T
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Стежков	16 Position
Количество Битов	4 Bit
Узлы Напряжения	5.00 V, 10.0 V, 15.0 V
Рассеяние Мощности	500 mW
Входная Ёмкость	5.00 pF
Ширина Ленты	8.00 MHz
Выходной ток (Макс)	6.8 mA
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	3V ~ 18V
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Длина	19.3 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

CD4555BE Описание продукта

The CD4555BE is a CMOS dual Binary to 1-of-4 Decoder/Demultiplexer with outputs high on select. Each decoder has two select inputs (A and B), an Enable input (E\\) and four mutually exclusive outputs. On the CD4555B the outputs are high on select. When the enable input is high, the outputs of the CD4555B remain low regardless of the state of the select inputs A and B. It is similar to MC14555.
Standard, symmetrical output characteristics
100% Tested for quiescent current at 20V

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности