CD4075BM - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD4075BM
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW6718804
Категория

Логический чип
Упаковка

SOIC-14
Описание

OR Gate 3Element 3IN CMOS 14Pin SOIC Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD4075BM Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD4075BM Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD4075BM
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW6718804
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Напряжение Питания (DC)	3.00V ~ 18.0V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	6.8 mA
Количество Цепей	3 Circuit
Количество Каналов	3 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	3 Bit
Время Задержки Распространения	250 ns
Узлы Напряжения	5.00 V, 10.0 V, 15.0 V
Рассеяние Мощности	500 mW
Ток Покоя	20.0 nA
Количество Вентилей	3 Gate
Входная Ёмкость	5.00 pF
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	3 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	3V ~ 18V
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Длина	8.65 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.58 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
Военный Класс	Yes

CD4075BM Описание продукта

The CD4075BM is a CMOS triple 3-input OR Gate. This device provides the system designer with direct implementation of the positive-logic OR functions and supplements the existing family of CMOS gates.
60ns Medium-speed operation (tPLH, tPHL)
100% Tested for quiescent current at 20V
1µA Maximum input current
2.5V at VDD = 15V Noise margin
Standardized symmetrical output characteristics
5V, 10V and 15V Parametric ratings
Meets all requirements of JEDEC tentative standard No.13B
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности