CD4070BM - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD4070BM
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW2593526
Категория

Логический чип
Упаковка

SOIC-14
Описание

XOR Gate 4Element 2IN CMOS 14Pin SOIC Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD4070BM Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD4070BM Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD4070BM
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW2593526
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Цифровой Логический Уровень	CMOS
Напряжение Питания (DC)	3.00V ~ 18.0V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	6.8 mA
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Каналов	4 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	4 Bit
Время Задержки Распространения	280 ns
Узлы Напряжения	5.00 V, 10.0 V, 15.0 V
Ток Покоя	20.0 nA
Количество Вентилей	4 Gate
Входная Ёмкость	5.00 pF
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	3V ~ 18V
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Длина	8.65 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.58 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
Военный Класс	Yes
ECCN кодекс	EAR99

CD4070BM Описание продукта

The CD4070BM is a CMOS quad Exclusive-OR Gate. The device provide the system designer with a means for direct implementation of the Exclusive-OR functions. The device features standardized symmetrical output characteristics and 5V, 10V and 15V parametric ratings.
High-voltage types (20V Rating)
65ns Medium speed operation
100% Tested for quiescent current at 20V
1µA at 18V Maximum input current
2.5V at VDD = 15V Noise margin
Meets all requirements of JEDEC tentative standard No. 13B

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности