CD4025BE - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD4025BE
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW3853033
Категория

Логический чип
Упаковка

DIP-14
Описание

NOR Gate 3Element 3IN CMOS 14Pin PDIP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD4025BE Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD4025BE Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD4025BE
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW3853033
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	DIP-14
Напряжение Питания (DC)	3.00V ~ 18.0V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	6.8 mA
Количество Цепей	3 Circuit
Количество Каналов	3 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	3 Bit
Время Задержки Распространения	250 ns
Узлы Напряжения	5.00 V, 10.0 V, 15.0 V
Ток Покоя	20.0 nA
Количество Вентилей	3 Gate
Входная Ёмкость	5.00 pF
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	3 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	3V ~ 18V
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Ширина	7.62 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2014/12/17
ECCN кодекс	EAR99

CD4025BE Описание продукта

The CD4025BE is a CMOS triple 3-input NOR Gate provide the system designer with direct implementation of the NOR function and supplement the existing family of CMOS gates. All inputs and outputs are buffered. It meets all requirements of JEDEC tentative standard no. 13B, "standard specifications for description of "B" series CMOS devices".
Propagation delay time = 60ns (typ.) at CL=50pF, VDD=10V
Buffered inputs and outputs
Standardized symmetrical output characteristics
100% Tested for maximum quiescent current at 20V
Maximum input current of 1µA at 18V

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности