CD40107BE - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD40107BE
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW6028021
Категория

Логический чип
Упаковка

PDIP-8
Описание

NAND Buffer / Driver, CD40107, 2Input, 136mA, 3V to 18V, DIP-8
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD40107BE Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD40107BE Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD40107BE
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW6028021
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-8
Напряжение Питания (DC)	3.00V ~ 18.0V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	136 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	8 Position
Количество Битов	2 Bit
Время Задержки Распространения	200 ns
Узлы Напряжения	5.00 V, 10.0 V, 15.0 V
Рассеяние Мощности	500 mW
Ток Покоя	40.0 nA
Количество Вентилей	2 Gate
Входная Ёмкость	5.00 pF
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	3V ~ 18V
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Длина	9.81 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

CD40107BE Описание продукта

The CD40107BE is a CMOS dual 2-input NAND Buffer/Driver containing two independent 2-input NAND buffers with open-drain single n-channel transistor outputs. This device features a wired-OR capability and high output sink current capability (136mA typ. at VDD = 10V, VDS= 1V). It meets all requirements of JEDEC tentative standard no. 13B, "standard specifications for description of "B" series CMOS devices".
100% Tested for quiescent current at 20V
Maximum input current of 1µA at 18V

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности