C8051F314 - Silicon Labs

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

C8051F314
Производитель

Silicon Labs
Чип воркер Часть №

CW52345662
Категория

Микроконтроллер
Упаковка

LQFP-32
Описание

MCU 8Bit C8051F31x 8051 CISC 8KB Flash 3.3V 32Pin LQFP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

C8051F314 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

C8051F314 Микроконтроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	C8051F314
Производитель	Silicon Labs
Чип воркер Часть №	CW52345662
Категория	Микроконтроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	32 Pin
Корпус/Пакет	LQFP-32
Напряжение Питания (DC)	3.30 V, 3.60 V (max)
Количество Каналов	5 Channel
Тактовая Частота	25.0MHz (max)
Размер ОЗУ	1.25K x 8
Размер Флэш-памяти	8000 B
Количество I/O Выводов	29 IO
Время Доступа	25.0 µs
Ядерная Архитектура	8051
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Obsolete
Упаковка	Tray
RoHS Комплаенс	Non-Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead

C8051F314 Описание продукта

C8051F31x devices are fully integrated mixed-signal System-on-a-Chip MCUs. Highlighted features are listed below. Refer to Table 1.1for specific product feature selection.
• High-speed pipelined 8051-compatible microcontroller core (up to 25 MIPS)
• In-system, full-speed, non-intrusive debug interface (on-chip)
• True 10-bit 200 ksps 25-channel single-ended/differential ADC with analog multiplexer (C8051F310/1/2/3/6)
• Precision programmable 25 MHz internal oscillator
• 16 kB (C8051F310/1/6/7) or 8 kB (C8051F312/3/4/5) of on-chip Flash memory
• 1280 bytes of on-chip RAM
• SMBus/I2C, Enhanced UART, and Enhanced SPI serial interfaces implemented in hardware
• Four general-purpose 16-bit timers
• Programmable Counter/Timer Array (PCA) with five capture/compare modules and Watchdog Timer function
• On-chip Power-On Reset, VDDMonitor, and Temperature Sensor
• On-chip Voltage Comparators
• 29/25/21 Port I/O (5 V tolerant)

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности