C8051F022 - Silicon Labs

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

C8051F022
Производитель

Silicon Labs
Чип воркер Часть №

CW184170296
Категория

Микроконтроллер
Упаковка

TQFP-100
Описание

MCU 8Bit 8051 CISC 64KB Flash 3.3V 100Pin TQFP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

C8051F022 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

C8051F022 Микроконтроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	C8051F022
Производитель	Silicon Labs
Чип воркер Часть №	CW184170296
Категория	Микроконтроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	100 Pin
Корпус/Пакет	TQFP-100
Напряжение Питания (DC)	3.30 V, 3.60 V (max)
Количество Каналов	5 Channel
Тактовая Частота	25.0MHz (max)
Размер ОЗУ	4.25K x 8
Размер Флэш-памяти	64000 B
Количество I/O Выводов	64 IO
Время Доступа	25.0 µs
Ядерная Архитектура	8051
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Not Recommended
Упаковка	Tray
RoHS Комплаенс	Non-Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead

C8051F022 Описание продукта

* ANALOG PERIPHERALS * SAR ADC * 10-Bit * ± 1 LSB INL * Programmable Throughput up to 100 ksps * Up to 8 External Inputs; Programmable as Single-Ended or Differential * Programmable Amplifier Gain: 16, 8, 4, 2, 1, 0.5 * Data-Dependent Windowed Interrupt Generator * Built-in Temperature Sensor (± 3°C) * 8-bit ADC * Programmable Throughput up to 500 ksps * 8 External Inputs * Programmable Amplifier Gain: 4, 2, 1, 0.5 * Two 12-bit DACs * Can Synchronize Outputs to Timers for Jitter-Free Wave- form Generation * Two Analog Comparators * Voltage Reference * Precision VDD Monitor/Brown-Out Detector * ON-CHIP JTAG DEBUG & BOUNDARY SCAN * On-Chip Debug Circuitry Facilitates Full- Speed, Non-Intrusive In-Circuit/In-System Debugging- Provides Breakpoints, Single-Stepping, Watchpoints, Stack Monitor; Inspect/Modify Memory and Registers * Superior Performance to Emulation Systems Using ICEChips, Target Pods, and Sockets * IEEE1149.1 Compliant Boundary Scan * Low-Cost, Complete Development Kit

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности