BCP68T1G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

BCP68T1G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW2348703
Категория

Двухполюсный плоскостной транзистор
Упаковка

TO-261-4
Описание

SOT-223 NPN 20V 1A
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

BCP68T1G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

BCP68T1G Двухполюсный плоскостной транзистор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	BCP68T1G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW2348703
Категория	Двухполюсный плоскостной транзистор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	4 Pin
Корпус/Пакет	TO-261-4
Частота	60 MHz
Номинальное Напряжение (DC)	20.0 V
Номинальный Ток	1.00 A
Количество Стежков	4 Position
Полярность	NPN
Рассеяние Мощности	1.5 W
Пробивное Напряжение (Коллектор-Эмиттер)	20 V
Непрерывный ток коллектора	1A
hFE Min	85 @500mA, 1V
Максимальная входная мощность	1.5 W
Усиление постоянного тока (hFE)	50
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-65 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	1.5 W
	Развернуть все
Длина	6.7 mm
Ширина	3.7 mm
Высота	1.65 mm
Материал	Silicon
Рабочая Температура	-65℃ ~ 150℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2016/06/20
ECCN кодекс	EAR99

BCP68T1G Описание продукта

The BCP68T1G is a NPN bipolar Silicon Epitaxial Transistor designed for use in low voltage and high current applications. The device is housed in the package which is designed for medium power surface-mount applications. This package ensures level mounting, resulting in improved thermal conduction and allows visual inspection of soldered joints. The formed leads absorb thermal stress during soldering, eliminating the possibility of damage to the die.
Can be soldered using wave or reflow
AECQ101 qualified and PPAP capable
PNP complement is BCP69T1

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности