BAT54ALT1G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

BAT54ALT1G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW618304
Категория

Диоды Шоттки
Упаковка

SOT-23-3
Описание

Small Signal Schottky Diode, Dual Common Anode, 30V, 200mA, 800mV, 600mA, 150℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

BAT54ALT1G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

BAT54ALT1G Диоды Шоттки характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	BAT54ALT1G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW618304
Категория	Диоды Шоттки
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	3 Pin
Корпус/Пакет	SOT-23-3
Номинальное Напряжение (DC)	30.0 V
Номинальный Ток	10.0 A
Ёмкость	10.0 pF
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Количество Стежков	3 Position
Напряжение в Прямом Направлении	0.8 V
Рассеяние Мощности	225 mW
Обратное время восстановления	5 ns
Прямой ток	200 mA
Максимальный ток перенапряжения (Ifsm)	600 mA
Максимальное прямое напряжение (Макс)	800 mV
Прямой ток (макс)	200 mA
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Температура соединения (Макс)	125 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	225 mW
	Развернуть все
Длина	3.04 mm
Ширина	1.4 mm
Высота	0.94 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 150℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

BAT54ALT1G Описание продукта

The BAT54ALT1G is a dual common anode Schottky Barrier Diode designed for high speed switching applications, circuit protection and voltage clamping. It features extremely low forward voltage reduces conduction loss. This miniature surface mount package is excellent for hand held and portable applications, where space is limited.
Extremely fast switching speed
0.35V at IF = 10mADC Low forward voltage (typ.)
AEC Qualified and PPAP capable
Pb-free, halogen free/BFR free

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности