APGDT002 - Microchip

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

APGDT002
Производитель

Microchip
Чип воркер Часть №

CW8120076
Категория

Набор разработчика
Упаковка

-
Описание

MICROCHIP APGDT002 CAN BUS ANALYZER TOOL, CAN 2B
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

APGDT002 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

APGDT002 Набор разработчика характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	APGDT002
Производитель	Microchip
Чип воркер Часть №	CW8120076
Категория	Набор разработчика
даташит	Datasheet
Корпус/Пакет	-
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Bulk
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
HTS кодекс	8536908085
ECCN кодекс	EAR99

APGDT002 Описание продукта

The APGDT002 is a CAN bus analyser tool intended to be a simple to use, low cost CAN bus monitor which can be used to develop and debug a high speed CAN network. The CAN analyser tool supports CAN 2.0b and ISO 11898-2 (high speed CAN with transmission rates of up to 1Mbit/s). The tool can be connected to the CAN network using the DB9 connector or through a screw terminal interface. The CAN BUS analyser has the standard functionality expected in an industry tool such as trace, transmit, trace filter, log file capability, and group CAN message transmit. All of these features make it a very versatile tool, allowing fast and simple debugging in any high speed CAN network.
Supports CAN 2.0b and ISO11898-2
Intuitive PC User Interface for functions such as configuration, trace, transmit, filter, log etc
Enhanced features in the PC GUI for PIC MCU support such as ECAN register view in the GUI
Direct access to CAN H and CAN L, CAN TX and CAN RX signals for robust debugging
Flexible CAN bus interface options i.e. standard DB9 connector or screw terminals
Software control of termination resistance and LED display for status, traffic, BUS error

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности