AMP02 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

AMP02
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW389421530
Описание

High Accuracy 8Pin Instrumentation Amplifier
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

AMP02 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

AMP02 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	AMP02
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW389421530
даташит	Datasheet
Количество Выводов	8 Pin
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown

AMP02 Описание продукта

Product Details
The AMP-02 is the first precision instrumentation amplifier available in an 8-pin package. Gain of the AMP-02 is set by a single external resistor, and can range from 1 to 10,000. No gain set resistor is required for unity gain. The AMP-02 includes an input protection network that allows the inputs to be taken 60V beyond either supply rail without damaging the device.
Laser trimming reduces the input offset voltage to under 100 µV. Output offset voltage is below 4 mV and gain accuracy is better than 0.5% for gain of 1000. PMI"s proprietary thin-film resistor process keeps the gain temperature coefficient under 50 ppm/°C.
Due to the AMP-02"s design, its bandwidth remains very high over a wide range of gain. Slew rate is over 4V/µS making the AMP-02 ideal for fast data acquisition systems.
A reference pin is provided to allow the output to be referenced to an external DC level. This pin may be used for offset correction or level shifting as required. In the 8-pin package, sense is internally connected to the output.
For an instrumentation amplifier with the highest precision, consult the AMP-01 data sheet.
### Features and Benefits
Low Offset Voltage: 100 µV max
Low Drift: 2 µV/°C max
Wide Gain Range: 1 to 10,000
High Common-Mode Rejection: 115 dB min
High Bandwidth (G = 1000): 200 kHz typ
Gain Equation Accuracy: 0.5% max
Single Resistor Gain Set
Input Overvoltage Protection
Low Cost
Available in Die Form

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности