AM26C31IPW - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

AM26C31IPW
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW3643300
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

TSSOP-16
Описание

Quad Transmitter RS-422 16Pin TSSOP Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

AM26C31IPW Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

AM26C31IPW Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	AM26C31IPW
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW3643300
Категория	Чип интерфейса
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-16
Напряжение Питания (DC)	4.50V (min)
Ток Питания	3 mA
Количество Стежков	16 Position
Драйверы/пакет	4
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4.4 mm
Высота	1.15 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

AM26C31IPW Описание продукта

The AM26C31IPW is a quadruple Differential Line Driver with complementary outputs, designed to meet the requirements of TIA/EIA-422-B and ITU (formerly CCITT). The 3-state outputs have high-current capability for driving balanced lines, such as twisted-pair or parallel-wire transmission lines and it provide the high-impedance state in the power-OFF condition. The enable functions are common to all four drivers and offer the choice of an active-high (G) or active-low (G) enable input. BiCMOS circuitry reduces power consumption without sacrificing speed.
High output impedance in power-OFF condition
Improved replacement for AM26LS31
Operates from a single 5V supply
100µA (ICC) Typical low power
7ns (tPLH=tPHL) Typical high speed
0.5ns (tsk(p)) Typical low pulse distortion
2kV ESD
10Mbps Signalling rate
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности