ADXL327BCPZ - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

ADXL327BCPZ
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW242540
Категория

Датчик ускорения
Упаковка

LFCSP-16
Описание

Accelerometer Triple 2g 2.5V/3.3V 378mV/g to 462mV/g 16Pin LFCSP EP Tray
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

ADXL327BCPZ Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

ADXL327BCPZ Датчик ускорения характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	ADXL327BCPZ
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW242540
Категория	Датчик ускорения
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	LFCSP-16
Напряжение Питания (DC)	3.60V (max)
Ток Питания	350 µA
Количество Стежков	16 Position
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	1.8V ~ 3.6V
Напряжение питания (Макс)	3.6 V
Напряжение питания (мин)	1.8 V
	Развернуть все
Длина	4 mm
Ширина	1.45 mm
Высота	1.43 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tray
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

ADXL327BCPZ Описание продукта

The ADXL327BCPZ is a 3-axis Low Power Accelerometer with signal conditioned voltage outputs, which is all on a single monolithic IC. The product measures acceleration with a full-scale range of ±2g. It can measure the static acceleration of gravity in tilt-sensing applications, as well as dynamic acceleration, resulting from motion, shock or vibration. The user selects the bandwidth of the accelerometer using the CX, CY and CZ capacitors at the XOUT, YOUT and ZOUT pins. Bandwidths can be selected to suit the application with a range of 0.5 to 1600Hz for X and Y axes and a range of 0.5 to 550Hz for the Z axis.
3-axis Sensing
Low power (350µA typical)
Single-supply operation
10,000g Shock survival
Excellent temperature stability
Bandwidth adjustment with a single capacitor per axis
ESD sensitive device, take proper precaution while handling the device.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности