ADS4149EVM - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

ADS4149EVM
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW59338189
Категория

Набор разработчика
Описание

TEXAS INSTRUMENTS ADS4149EVM Evaluation Module, 14Bit, 250MSPS, Analog to Digital Converter
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

ADS4149EVM Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

ADS4149EVM Набор разработчика характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	ADS4149EVM
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW59338189
Категория	Набор разработчика
даташит	Datasheet
Количество Битов	14 Bit
Частота Выборки	250 Msps
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

ADS4149EVM Описание продукта

The ADS4149EVM is a circuit board that allows designers to evaluate the performance of Texas Instruments‘ ADS4149 device, an extremely low power 14-bit 250 MSPS analog to digital converter. The ADC features a configurable parallel DDR LVDS or CMOS outputs. The EVM provides a flexible environment to test the ADS4149 under a variety of clock, input and supply conditions.
The ADS4149EVM also includes Texas Instrument’s new 10 Output Low Jitter Clock Synchronizer and Jitter Cleaner device, the CDCE72010, which can be used to drive the clocking input to the ADS4149. Open sockets are provided for an external VCXO and crystal band pass filter allowing for rapid evaluation of a combined high performance ADC and clocking circuit equivalent to a final system level solution. Alternatively an external clock source can be provided to the EVM and either routed through the CDCE72010 or passed directly to the ADS4149 clock input.
The ADS4149EVM is directly compatible to the TSW1400EVM or TSW1405EVM, TI"s high speed LVDS output ADC data capture cards. It is also compatible with Altera and Xilinx FPGA EVMs which have FMC or HSMC connectors, via the appropriate interposer card.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности