ADN2830ACPZ32 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

ADN2830ACPZ32
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW7040570
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

LFCSP-32
Описание

Laser Driver 1CH 32Pin LFCSP EP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

ADN2830ACPZ32 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

ADN2830ACPZ32 Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	ADN2830ACPZ32
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW7040570
Категория	Чип интерфейса
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	32 Pin
Корпус/Пакет	LFCSP-32
Напряжение Питания (DC)	4.50V (min)
Ток Питания	25 mA
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	32 Position
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	5 mm
Высота	0.83 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tray
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

ADN2830ACPZ32 Описание продукта

Product Details
The ADN2830 provides closed loop control of the average optical power of a continuous wave (CW) laser diode (LD) after initial factory setup. The control loop adjusts the laser Ibias to maintain a constant Back Facet Monitor Photo Diode (MPD) current and hence a constant laser optical power. The external PSET resistor is adjusted during factory set up to set the desired optical power. Programmable alarms are provided for laser fail (end of life) and laser degrade (impending fail).
The ADN2830 operates from a single power +5 V supply. It is available in 5mm x 5mm LFCSP-32 Lead Frame Chip Scale.
### Features and Benefits
Bias Current Range 4 mA to 200 mA
Monitor Photodiode Current 50 µA to 1200 µA
Closed-loop Control of Average Power
Laser Fail and Laser Degrade Alarms
Automatic Laser Shutdown (ALS)
Current parameter monitoring
-40°C to +85°C Temperature Range

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности