ADG509AKN - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

ADG509AKN
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW18525864
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

PDIP-16
Описание

Analog Multiplexer Single 4:1 16Pin PDIP Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

ADG509AKN Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

ADG509AKN Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	ADG509AKN
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW18525864
Категория	Чип интерфейса
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-16
Количество Выходных Интерфейсов	2 Output
Тип Контактов	4PST
Ток Питания	600 µA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	1 Channel
Рассеяние Мощности	470 mW
Количество входов	8 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	470 mW
	Развернуть все
Высота	3.3 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	Non-Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
ECCN кодекс	EAR99

ADG509AKN Описание продукта

GENERAL DESCRIPTION
The ADG508A and ADG509A are CMOS monolithic analog multiplexers with eight channels and dual four channels, respectively. The ADG508A switches one of eight inputs to a common output, depending on the state of three binary addresses and an enable input. The ADG509A switches one of four differential inputs to a common differential output, depending on the state of two binary addresses and an enable input. Both devices have TTL and 5 V CMOS logic-compatible digital inputs.
FEATURES
44 V supply maximum rating
VSSto VDDanalog signal range
Single-/dual-supply specifications
Wide supply range: 10.8 V to 16.5 V
Extended plastic temperature range: −40°C to +85°C
Low power dissipation: 28 mW maximum
Low leakage: 20 pA typical
Available in 16-lead DIP/SOIC and 20-lead PLCC/LCC packages
Superior alternative to DG508A, HI-508, DG509A, HI-509

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности