ADF4153BCPZ - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

ADF4153BCPZ
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW1061846
Категория

Тактовый генератор
Упаковка

LFCSP-20
Описание

Clock Generator 10MHz to 4GHz Input 20Pin LFCSP EP Tray
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

ADF4153BCPZ Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

ADF4153BCPZ Тактовый генератор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	ADF4153BCPZ
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW1061846
Категория	Тактовый генератор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	LFCSP-20
Частота	4 GHz
Напряжение Питания (DC)	2.70V (min)
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Ток Питания	24 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2.7V ~ 3.3V
Напряжение питания (Макс)	3.3 V
Напряжение питания (мин)	2.7 V
	Развернуть все
Длина	4 mm
Ширина	4 mm
Высота	0.83 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tray
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Contains Lead
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	5A991.b

ADF4153BCPZ Описание продукта

GENERAL DESCRIPTION
The ADF4153 is a fractional-N frequency synthesizer that implements local oscillators in the upconversion and downconversion sections of wireless receivers and transmitters. It consists of a low noise digital phase frequency detector (PFD), a precision charge pump, and a programmable reference divider. There is a Σ-Δ based fractional interpolator to allow programmable fractional-N
division. The INT, FRAC, and MOD registers define an overall N divider (N= (INT+ (FRAC/MOD))). In addition, the 4-bit reference counter (R counter) allows selectable REFIN frequencies at the PFD input. A complete phase-locked loop (PLL) can be implemented if the synthesizer is used with an external loop filter and a voltage controlled oscillator (VCO).

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности