ADCMP670 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

ADCMP670
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW389421150
Описание

Dual Low Power 1.5% Comparator With 400mV Reference
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

ADCMP670 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

ADCMP670 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	ADCMP670
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW389421150
даташит	Datasheet
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active

ADCMP670 Описание продукта

Product Details
The ADCMP670 consists of two low power, high accuracy, comparator and reference circuits in a 6-lead TSOT package. The internal 400 mV reference provides the ability to monitor low voltage supplies. The device operates on a supply voltage from 1.7 V to 5.5 V and draws only 6.5 μA typical, making it suitable for low power system monitoring and portable applica-tions. Hysteresis is included in the comparators. The comparator outputs are open-drain and the output can be pulled up to any voltage up to 5.5 V. The output stage is guaranteed to sink greater than 5 mA over temperature.
The ADCMP670 is currently available in one model, the ADCMP670-1. This model has one inverting input and one noninverting input, making it suitable for use as a window comparator. The device is suitable for portable, commercial, industrial, and automotive applications.
**Applications**
* Li-Ion monitoring
* Portable applications
* Hand-held instruments
* Window comparators
* LED/relay driving
* Optoisolator driving
* Control systems
Data Sheet, Rev. 0, 2/07
### Features and Benefits
400 mV ± 1.5% threshold
Supply range: 1.7 V to 5.5 V
Low quiescent current: 6.5 μA typical
Input range includes ground
Internal hysteresis: 8.9 mV typical
Low input bias current: ±10 nA maximum
Open-drain outputs
Supports wire-AND connections
Input polarities: one inverting and one noninverting
Low profile (1 mm) TSOT package
Drop-in replacement for the LT6700-1

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности