AD8553 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

AD8553
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW1205335919
Описание

10MHz, 20V/μs, G = 1, 10, 100, 1000 i CMOS® Programmable Gain Instrumentation Amplifier
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

AD8553 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

AD8553 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	AD8553
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW1205335919
даташит	Datasheet
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active

AD8553 Описание продукта

GENERAL DESCRIPTION
The AD8253 is an instrumentation amplifier with digitally programmable gains that has GΩ input impedance, low output noise, and low distortion making it suitable for interfacing with sensors and driving high sample rate analog-to-digital converters (ADCs). It has high bandwidth of 10 MHz, low THD and fast settling time of 615 ns to 0.001%. Offset drift and gain drift are
specified to 1.2 μV/°C and 10 ppm/°C, respectively for G = 1000. In addition to its wide input common voltage range, it boasts a high common-mode rejection of 80 dB at G = 1 from dc to
50 kHz. The combination of precision dc performance coupled with high speed capabilities make the AD8253 an excellent candidate for data acquisition. Furthermore, this monolithic solution simplifies design and manufacturing, and boosts performance of instrumentation by maintaining a tight match of internal resistors and amplifiers.
FEATURES
Small package: 10-lead MSOP
Programmable gains: 1, 10, 100, 1000
Digital or pin-programmable gain setting
Wide supply: ±5 V to ±15 V
Excellent dc performance
High CMRR 120 dB , G = 100
Low gain drift: 10 ppm/°C
Low offset drift: 1.2 μV/°C , G = 1000
Excellent ac performance
Fast settling time: 615 ns to 0.001%
High slew rate: 20 V/μs
Low distortion:
High CMRR over frequency: 80 dB to 50 kHz
Low noise: 8 nV/√Hz, G = 1000
Low power: 4 mA
APPLICATIONS
Data acquisition
Biomedical analysis
Test and measurement

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности