AD8510 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

AD8510
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW181927510
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

Precision, Very Low Noise, Low Input Bias Current, Wide Bandwidth JFET Operational Amplifiers
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

AD8510 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

AD8510 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	AD8510
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW181927510
даташит	Datasheet
Корпус/Пакет	SOIC
Полоса пропускания 3 дБ	8 MHz
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant

AD8510 Описание продукта

GENERAL DESCRIPTION
The AD8510/AD8512/AD8513 are single-, dual-, and quad precision JFET amplifiers that feature low offset voltage, input bias current, input voltage noise, and input current noise. The combination of low offsets, low noise, and very low input bias currents makes these amplifiers especially suitable for high impedance sensor amplification and precise current measurements
using shunts.
The combination of dc precision, low noise, and fast settling time results in superior accuracy in medical instruments, electronic measurement, and automated test equipment. Unlike many competitive amplifiers, the AD8510/AD8512/AD8513 maintain their fast settling performance even with substantial capacitive loads. Unlike many older JFET amplifiers, the AD8510/AD8512/AD8513 do not suffer from output phase reversal when input voltages exceed the maximum common-mode voltage range.
FEATURES
Fast settling time: 500 ns to 0.1%
Low offset voltage: 400 μV maximum
Low TCVOS: 1 μV/°C typical
Low input bias current: 25 pA typical at VS= ±15 V
Dual-supply operation: ±5 V to ±15 V
Low noise: 8 nV/√Hz typical at f = 1 kHz
Low distortion: 0.0005%
No phase reversal
Unity gain stable
APPLICATIONS
Instrumentation
Multipole filters
Precision current measurement
Photodiode amplifiers
Sensors
Audio

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности