AD7951 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

AD7951
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW622308133
Описание

14Bit, 1MSPS, Unipolar/Bipolar Programmable Input PulSAR® ADC
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

AD7951 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

AD7951 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	AD7951
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW622308133
даташит	Datasheet
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active

AD7951 Описание продукта

Product Details
The AD7951 is a 14-bit, charge redistribution, successive approximation register (SAR) architecture analog-to-digital converter (ADC) fabricated on Analog Devices, Inc."s _i_CMOS high voltage process. The device is configured through hardware or via a dedicated write only serial configuration port for input range and operating mode. The AD7951 contains a high speed 14-bit sampling ADC, an internal conversion clock, an internal reference (and buffer), error correction circuits, and both serial and parallel system interface ports. A falling edge on NVST samples the analog input on IN+ with respect to a ground sense, IN−. The AD7951 features four different analog input ranges and three different sampling modes: warp mode for the fastest throughput, normal mode for the fastest asynchronous throughput, and impulse mode where power is scaled with throughput. Operation is specified from −40°C to +85°C.
**Applications**
Process control
Medical instruments
High speed data acquisition
Digital signal processing
Instrumentation
Spectrum analysis
ATE
### Features and Benefits
Multiple pins/software programmable input ranges:
5 V, 10 V, ±5 V, ±10 V
Pins or serial SPI® compatible input ranges/mode selection
Throughput
1 MSPS (warp mode)
800 kSPS (normal mode)
670 kSPS (impulse mode)
14-bit resolution with no missing codes
INL: ±0.3 LSB typ, ±1 LSB max (±61 ppm of FSR)
SNR: 85 dB @ 2 kHz
iCMOS® process technology
See data sheet for additional features

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности