74LVC1G74 - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74LVC1G74
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW545291932
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

Single D-type flip-flop with set and reset; positive edge trigger
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74LVC1G74 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74LVC1G74 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74LVC1G74
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW545291932
даташит	Datasheet
	Развернуть все
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant

74LVC1G74 Описание продукта

General description
The 74LVC1G74 is a single positive edge triggered D-type flip-flop with individual data (D)
inputs, clock (CP) inputs, set (SD) and reset (RD) inputs, and complementary Q and Q
outputs.
This device is fully specified for partial power-down applications using IOFF. The IOFF circuitry disables the output, preventing damaging backflow current through the device when it is powered down.
The set and reset are asynchronous active LOW inputs and operate independently of the clock input. Information on the data input is transferred to the Q output on the LOW-to-HIGH transition of the clock pulse. The D inputs must be stable one set-up time prior to the LOW-to-HIGH clock transition for predictable operation.
Schmitt trigger action at all inputs makes the circuit highly tolerant of slower input rise and
fall times.
Features and benefits
 Wide supply voltage range from 1.65 V to 5.5 V
 5 V tolerant inputs for interfacing with 5 V logic
 High noise immunity
 Complies with JEDEC standard:
 JESD8-7 (1.65 V to 1.95 V)
 JESD8-5 (2.3 V to 2.7 V)
JESD8-B/JESD36 (2.7 V to 3.6 V)
 ESD protection:
HBM JESD22-A114F exceeds 2000 V
 MM JESD22-A115-A exceeds 200 V
±24 mA output drive (VCC=3.0V)
CMOS low power consumption
Latch-up performance exceeds 250 mA
Direct interface with TTL levels
Inputs accept voltages up to 5 V
Multiple package options
Specified from -40F℃ to +85℃ and 40℃ to +125℃

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности