74LVC1G58 - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74LVC1G58
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW545291837
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

Low-power configurable multiple function gate
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74LVC1G58 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74LVC1G58 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74LVC1G58
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW545291837
даташит	Datasheet
	Развернуть все
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant

74LVC1G58 Описание продукта

General description
The 74LVC1G58 provides configurable multiple functions. The output state is determined by eight patterns of 3-bit input. The user can choose the logic functions AND, OR, NAND, NOR, XOR, inverter and buffer. All inputs can be connected to VCC or GND.
The three inputs (A, B and C) are capable of transforming slowly changing input signals into sharply defined, jitter-free output signals.
The gate switches at different points for positive and negative-going signals. The difference between the positive voltage VT+ and the negative voltage VT− is defined as the hysteresis voltage VH.
Inputs can be driven from either 3.3 V or 5 V devices. This feature allows the use of this device in a mixed 3.3 V and 5 V environment.
This device is fully specified for partial power-down applications using IOFF. The IOFF circuitry disables the output, preventing the damaging backflow current through the device when it is powered down.
Features
■ Wide supply voltage range from 1.65 V to 5.5 V
■ 5 V tolerant input/output for interfacing with 5 V logic
■ High noise immunity
■ Complies with JEDEC standard:
◆ JESD8-7 (1.65 V to 1.95 V)
◆ JESD8-5 (2.3 V to 2.7 V)
◆ JESD8B/JESD36 (2.7 V to 3.6 V).
■ ESD protection:
◆ HBM JESD22-A114E exceeds 2000 V
◆ MM JESD22-A115-A exceeds 200 V.
■ ±24 mA output drive (VCC = 3.0 V)
■ CMOS low power consumption
■ Latch-up performance exceeds 250 mA
■ Direct interface with TTL levels
■ Multiple package options
■ Specified from −40 °C to +85 °C and −40 °C to +125 °C.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности