74LVC1G00GW - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74LVC1G00GW
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW39026726
Категория

Логический чип
Упаковка

SOT-353
Описание

NXP 74LVC1G00GW NAND Gate, 74LVC1G00, 2Input, 32mA, 1.65V to 5.5V, SOT-353-5
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74LVC1G00GW Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74LVC1G00GW Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74LVC1G00GW
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW39026726
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	SOT-353
Напряжение Питания (DC)	1.65V (min)
Выходной Ток	32 mA
Количество Стежков	5 Position
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	1.65 V
	Развернуть все
Длина	2.25 mm
Ширина	1.35 mm
Высота	1 mm
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74LVC1G00GW Описание продукта

The 74LVC1G00GW is a single 2-input NAND Gate with input can be driven from either 3.3V or 5V devices. This feature allows the use of these devices in a mixed 3.3V and 5V environment. Schmitt-trigger action at all inputs makes the circuit tolerant for slower input rise and fall time. This device is fully specified for partial power-down applications using IOFF. The IOFF circuitry disables the output, preventing the damaging backflow current through the device when it is powered down.
High noise immunity
Complies with JEDEC standard - JESD8-7, JESD8-5 and JESD8-B/JESD36
±24mA Output drive (VCC = 3V)
CMOS low power consumption
Latch-up performance exceeds 250mA
Direct interface with TTL levels
Inputs accept voltages up to 5V
ESD protection - HBM JESD22-A114F exceeds 2000V, MM JESD22-A115-A exceeds 200V

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности