74LVC14ABQ - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74LVC14ABQ
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW151371320
Категория

Логический чип
Упаковка

DHVQFN
Описание

NXP 74LVC14ABQ Inverter, Schmitt Trigger, 74LVC14, 1Input, 24mA, 1.2V to 3.6V, DHVQFN-14
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74LVC14ABQ Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74LVC14ABQ Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74LVC14ABQ
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW151371320
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	DHVQFN
Напряжение Питания (DC)	1.20V (min)
Выходной Ток	24 mA
Количество Стежков	14 Position
Количество входов	1 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	3.6 V
Напряжение питания (мин)	1.2 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74LVC14ABQ Описание продукта

The 74LVC14ABQ is a Hex Inverting buffers with Schmitt-trigger input. The device is capable of transforming slowly-changing input signals into sharply defined, jitter-free output signals. The inputs switch at different points for positive and negative-going signals. The difference between the positive voltage VT+ and the negative voltage VT- is defined as the input hysteresis voltage VH. Inputs can be driven from either 3.3V or 5V devices. This feature allows the use of this device as a translator in mixed 3.3V and 5V applications.
5V Tolerant inputs for interfacing with 5V logic
CMOS low-power consumption
Direct interface with TTL levels
Unlimited input rise and fall times
Inputs accept voltages up to 5.5V
Complies with JEDEC standard JESD8-C/JESD36 (2.7 to 3.6V)
ESD protection - HBM JESD22-A114E >2000V, MM JESD22-A115-A >200V, CDM JESD22-C101E >1000V

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности