74LCX07MTCX - Fairchild

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74LCX07MTCX
Производитель

Fairchild
Чип воркер Часть №

CW24577140
Категория

Логический чип
Упаковка

TSSOP-14
Описание

Buffer/Driver 6CH Non-Inverting Open Drain CMOS 14Pin TSSOP T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74LCX07MTCX Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74LCX07MTCX Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74LCX07MTCX
Производитель	Fairchild
Чип воркер Часть №	CW24577140
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-14
Напряжение Питания (DC)	2.50 V
Количество Выходных Интерфейсов	6 Output
Количество Каналов	6 Channel
Количество Битов	6 Bit
Количество входов	6 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4.4 mm
Высота	0.9 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

74LCX07MTCX Описание продукта

The 74LCX07MTCX is a low voltage Hex Buffer with open drain outputs. The inputs tolerate voltages up to 7V allowing the interface of 5V systems to 3V systems. The outputs of the LCX07 are open drain and can be connected to other open drain outputs to implement active HIGH wire AND or active LOW wire OR functions. The 74LCX07 is fabricated with advanced CMOS technology to achieve high speed operation while maintaining CMOS low power dissipation.
Power down high impedance inputs and outputs
Implements patented noise/EMI reduction circuitry
Latch-up performance exceeds JEDEC 78 conditions
ESD performance - Human body model >2000V Machine model >200V
2.9ns Propagation delay (tpd), 10µA ICC maximum

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности