74HCT373N - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74HCT373N
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW160957621
Категория

Логический замок
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

NXP 74HCT373N Latch, 74HCT373, Transparent, Tri State Non Inverted, 17ns, 6mA, DIP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74HCT373N Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74HCT373N Логический замок характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74HCT373N
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW160957621
Категория	Логический замок
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	DIP
Цифровой Логический Уровень	CMOS
Напряжение Питания (DC)	5.00 V, 5.50 V (max)
Выходной Ток	6 mA
Количество Цепей	8 Circuit
Количество Стежков	20 Position
Количество Битов	8 Bit
Полярность	Non-Inverting
Количество Вентилей	8 Gate
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Bulk
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74HCT373N Описание продукта

The 74HCT373N is a 3-state octal D-type Transparent Latch with high-speed Si-gate CMOS device and is pin compatible with low-power Schottky TTL. It is specified in compliance with JEDEC standard no-7A. It features separate D-type inputs for each latch and 3-state outputs for bus oriented applications. A latch enable (LE) input and an output enable (OE) input are common to all latches. The latch consists of eight D-type transparent latches with 3-state true outputs. When LE is high, data at the Dn inputs enters the latches. In this condition the latches are transparent, that is a latch output will change state each time its corresponding D input changes.
Common 3-state output enable input
ESD protection HBM JESD22-A114F exceeds 2000V
ESD sensitive device, take proper precaution while handling the device.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности