74HCT165N - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74HCT165N
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW160945539
Категория

Регистр сдвига
Упаковка

DIP
Описание

NXP 74HCT165N Shift Register, 74HCT165, Parallel to Serial, 1Element, 8Bit, DIP, 16Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74HCT165N Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74HCT165N Регистр сдвига характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74HCT165N
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW160945539
Категория	Регистр сдвига
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	DIP
Частота	48.0 MHz
Цифровой Логический Уровень	TTL
Напряжение Питания (DC)	5.00 V, 6.00 V (max)
Количество Цепей	8 Circuit
Количество Стежков	16 Position
Количество Битов	8 Bit
Количество Вентилей	1 Gate
Входная Ёмкость	3.50 pF
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	19.5 mm
Ширина	6.48 mm
Высота	4.2 mm
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74HCT165N Описание продукта

The 74HCT165N is a 8-bit serial or parallel-in/serial-out Shift Register features a serial data input (DS), eight parallel data inputs (D0 to D7) and two complementary serial outputs (Q7 and Q7\\). When the parallel load input (PL\\) is low the data from D0 to D7 is loaded into the shift register asynchronously. When PL\ is high data enters the register serially at DS. When the clock enable input (CE\\) is low data is shifted on the low-to-high transitions of the CP input. A high on CE\ will disable the CP input. Inputs include clamp diodes, this enables the use of current limiting resistors to interface inputs to voltages in excess of VCC.
Asynchronous 8-bit parallel load
Synchronous serial input
TTL Input level
Complies with JEDEC standard No. 7A

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности