74HCT165D - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74HCT165D
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW128238239
Категория

Регистр сдвига
Упаковка

SOIC
Описание

IC HCT SERIES, 8Bit RIGHT PARALLEL IN SERIAL OUT SHIFT REGISTER, COMPLEMENTARY OUTPUT, PDSO16, 3.9MM, PLASTIC, MS-012, SOT-109-1, SOP-16, Shift Register
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74HCT165D Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74HCT165D Регистр сдвига характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74HCT165D
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW128238239
Категория	Регистр сдвига
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	SOIC
Частота	48.0 MHz
Напряжение Питания (DC)	5.00 V, 6.00 V (max)
Количество Цепей	8 Circuit
Количество Стежков	16 Position
Количество Битов	8 Bit
Количество Вентилей	1 Gate
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74HCT165D Описание продукта

The 74HCT165D is a 8-bit serial or parallel-in/serial-out Shift Register features a serial data input (DS), eight parallel data inputs (D0 to D7) and two complementary serial outputs (Q7 and Q7\\). When the parallel load input (PL\\) is low the data from D0 to D7 is loaded into the shift register asynchronously. When PL\ is high data enters the register serially at DS. When the clock enable input (CE\\) is low data is shifted on the low-to-high transitions of the CP input. A high on CE\ will disable the CP input. Inputs include clamp diodes, this enables the use of current limiting resistors to interface inputs to voltages in excess of VCC.
Asynchronous 8-bit parallel load
Synchronous serial input
TTL Input level
Complies with JEDEC standard No. 7A

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности