74HCT164N - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74HCT164N
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW128207073
Категория

Регистр сдвига
Упаковка

DIP
Описание

NXP 74HCT164N Shift Register, 74HCT164, Serial to Parallel, 1Element, 8Bit, DIP, 14Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74HCT164N Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74HCT164N Регистр сдвига характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74HCT164N
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW128207073
Категория	Регистр сдвига
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	DIP
Частота	61.0 MHz
Напряжение Питания (DC)	5.00 V, 6.00 V (max)
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Количество Цепей	8 Circuit
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	8 Bit
Количество Вентилей	1 Gate
Входная Ёмкость	3.50 pF
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74HCT164N Описание продукта

The 74HCT164N is a 8-bit serial-in/parallel-out Shift Register features two serial data inputs (DSA and DSB), eight parallel data outputs (Q0 to Q7). Data is entered serially through DSA or DSB and either input can be used as an active high enable for data entry through the other input. Data is shifted on the low-to-high transitions of the clock (CP) input. A low on the master reset input (MR) clears the register and forces all outputs low, independently of other inputs. Inputs include clamp diodes. This enables the use of current limiting resistors to interface inputs to voltages in excess of VCC.
TTL Level
Gated serial data inputs
Asynchronous master reset
Complies with JEDEC standard No. 7A

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности