74HCT107N - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74HCT107N
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW142834921
Категория

Бистабильный мультивибратор
Упаковка

DIP
Описание

NXP 74HCT107N Flip-Flop, with Reset, Complementary Output, Negative Edge, 74HCT107, JK, 19ns, 73MHz, 4mA, DIP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74HCT107N Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74HCT107N Бистабильный мультивибратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74HCT107N
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW142834921
Категория	Бистабильный мультивибратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	DIP
Частота	73 MHz
Напряжение Питания (DC)	4.50V (min)
Выходной Ток	4 mA
Количество Стежков	14 Position
Тактовая Частота	66 MHz
Количество Битов	1 Bit
Полярность	Non-Inverting, Inverting
Количество Вентилей	2 Gate
Входная Ёмкость	3.5 pF
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74HCT107N Описание продукта

The 74HCT107N is a dual negative edge triggered JK Flip-flop featuring individual J and K inputs, clock (CP\\) and reset (R\\) inputs and complementary Q and Q\ outputs. The reset is an asynchronous active low input and operates independently of the clock input. The J and K inputs control the state changes of the flip-flops as described in the mode select function table. The J and K inputs must be stable one set-up time prior to the high-to-low clock transition for predictable operation. Inputs include clamp diodes that enable the use of current limiting resistors to interface inputs to voltages in excess of VCC.
TTL Input levels
Complies with JEDEC standard No. 7A

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности