74HC75D - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74HC75D
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW116265731
Категория

Логический замок
Упаковка

SOIC
Описание

IC HC/UH SERIES, DUAL HIGH LEVEL TRIGGERED D LATCH, COMPLEMENTARY OUTPUT, PDSO16, 3.9MM, PLASTIC, MS-012, SOT-109-1, SO-16, FF/Latch
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74HC75D Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74HC75D Логический замок характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74HC75D
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW116265731
Категория	Логический замок
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	SOIC
Напряжение Питания (DC)	2.00V (min)
Выходной Ток	5.2 mA
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Стежков	16 Position
Количество Битов	4 Bit
Количество Вентилей	4 Gate
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	10 mm
Ширина	4 mm
Высота	1.45 mm
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74HC75D Описание продукта

The 74HC75D is a quad bistable Transparent Latch with complementary outputs. Two latches are simultaneously controlled by one of two active high enable inputs (LE12 and LE34). When LEnn is high, the data enters the latches and appears at the nQ outputs. The nQ outputs follow the data inputs (nD) as long as LEnn is high (transparent). The data on the nD inputs one set-up time prior to the high-to-low transition of the LEnn will be stored in the latches. The latched outputs remain stable as long as the LEnn is low. Inputs include clamp diodes. This enables the use of current limiting resistors to interface inputs to voltages in excess of VCC.
Complementary Q and Q\ outputs
VCC and GND on the center pins
Low-power dissipation
CMOS Input level
Complies with JEDEC standard No. 7A

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности