74HC74N - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74HC74N
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW96136637
Категория

LVDS, M-LVDS, ECL, CML
Упаковка

PDIP
Описание

NXP 74HC74N LVDS Driver, Positive Edge-Trigger, -40℃, 125℃, 2V
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74HC74N Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74HC74N LVDS, M-LVDS, ECL, CML характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74HC74N
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW96136637
Категория	LVDS, M-LVDS, ECL, CML
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	PDIP
Частота	24 MHz
Напряжение Питания (DC)	5.00 V, 6.00 V (max)
Выходной Ток	5.20 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	2 Bit
Полярность	Non-Inverting, Inverting
Количество Вентилей	2 Gate
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74HC74N Описание продукта

The 74HC74N is a dual D-type Flip-Flop with set and reset and positive-edge trigger. This has individual data (nD), clock (nCP), set (nSD) and reset (nRD) inputs and complementary nQ and nQ outputs. Data at the nD-input that meets the set-up and hold time requirements on the low-to-high clock transition and is stored in the flip-flop and appears at the nQ output. Schmitt-trigger action in the clock input makes the circuit highly tolerant to slower clock rise and fall times. Inputs include clamp diodes that enable the use of current limiting resistors to interface inputs to voltages in excess of VCC.
Symmetrical output impedance
Low power dissipation
High noise immunity
Balanced propagation delays
ESD protection HBM JESD22-A114F exceeds 2000V
ESD sensitive device, take proper precaution while handling the device.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности