74HC132N - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74HC132N
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW142834854
Категория

Логический чип
Упаковка

DIP
Описание

NAND Gate 4Element 2IN CMOS 14Pin PDIP Bulk
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74HC132N Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74HC132N Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74HC132N
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW142834854
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	DIP
Напряжение Питания (DC)	5.00 V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	5.2 mA
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Стежков	14 Position
Количество Вентилей	4 Gate
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74HC132N Описание продукта

The 74HC132N is a quad 2-input NAND Schmitt trigger is a high-speed Si-gate CMOS device and is pin compatible with low-power Schottky TTL (LSTTL ). It is specified in compliance with JEDEC standard no-7A. The 74HC132 features reduced input threshold levels to allow interfacing to TTL logic levels. Inputs also include clamp diodes that enable the use of current limiting resistors to interface inputs to voltages in excess of VCC. Schmitt trigger inputs transform slowly changing input signals into sharply defined jitter-free output signals. The inputs switch at different points for positive and negative-going signals. The difference between the positive voltage VT+ and the negative voltage VT- is defined as the input hysteresis voltage VH.
ESD protection HBM JESD22-A114F exceeds 2000V
ESD sensitive device, take proper precaution while handling the device.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности