74AUP1G08GW - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74AUP1G08GW
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW135097034
Категория

Логический чип
Упаковка

TSSOP
Описание

NXP 74AUP1G08GW AND Gate, 74AUP1G08, 2Input, 4mA, 0.8V to 3.6V, TSSOP-5
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74AUP1G08GW Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74AUP1G08GW Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74AUP1G08GW
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW135097034
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP
Напряжение Питания (DC)	800mV (min)
Выходной Ток	4 mA
Количество Стежков	5 Position
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	3.6 V
Напряжение питания (мин)	0.8 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74AUP1G08GW Описание продукта

The 74AUP1G08GW is a low-power 2-input AND Gate, Schmitt-trigger action at all inputs makes the circuit tolerant to slower input rise and fall times across the entire VCC range from 0.8 to 3.6V. This device ensures a very low static and dynamic power consumption across the entire VCC range from 0.8 to 3.6V. This device is fully specified for partial Power-down applications using IOFF. The IOFF circuitry disables the output, preventing the damaging backflow current through the device when it is powered down.
High noise immunity
Complies with JEDEC standards - JESD8-12, JESD8-11, JESD8-7, JESD8-5, JESD8-B
ESD Protection - HBM JESD22-A114F >5000V, MM JESD22-A115-A >200V, CDM JESD22-C101E >1000V
0.9µA Low static power consumption (ICC)
Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78 Class II
Inputs accept voltages up to 3.6V
<10% of VCC Low noise overshoot and undershoot
IOFF circuitry provides partial power-down mode operation

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности