1N6373RL4G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

1N6373RL4G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW74172929
Категория

Телевизионные диоды
Упаковка

DO-201AD
Описание

5V 1500W
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

1N6373RL4G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

1N6373RL4G Телевизионные диоды характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	1N6373RL4G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW74172929
Категория	Телевизионные диоды
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	2 Pin
Корпус/Пакет	DO-201AD
Номинальное Напряжение (DC)	6.00 V
Номинальная Мощность	1.50 kW
Пробивное Напряжение	6 V
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Стежков	2 Position
Зажимное напряжение	9.4 V
Максимальное повторяющееся обратное напряжение (Vrrm)	5V
Испытательный ток	1 mA
Максимальное напряжение пробоя	6 V
Пиковая импульсная мощность	1500 W
Минимальное напряжение пробоя	6 V
Обратное напряжение пробоя	6 V
Рабочая температура (Макс)	175 ℃
Рабочая температура (мин)	-65 ℃
Температура соединения	-65℃ ~ 175℃
	Развернуть все
Длина	9.5 mm
Диаметр	5.30 mm
Рабочая Температура	-65℃ ~ 175℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

1N6373RL4G Описание продукта

Mosorb devices are designed to protect voltage sensitive components from high voltage, high-energy transients. They have excellent clamping capability, high surge capability, low zener impedance and fast response time. These devices are ON Semiconductor’s exclusive, cost-effective, highly reliable Surmetic axial leaded package and are ideally-suited for use in communication systems, numerical controls, process controls, medical equipment, business machines, power supplies and many other industrial/consumer applications, to protect CMOS, MOS and Bipolar integrated circuits.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности